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比特失效模式统计方法及装置

839   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 08:59:37
本发明公开了一种比特失效模式统计方法及装置,将获取的待处理存储器芯片单元的比特失效的原始数据利用Perl脚本进行分析和计算,不仅极大的降低了生产成本,又能够快速的统计出每批产品的比特失效模式结果,从而直观的展现出何种比特失效模式对产品的良率有着较大的影响,也就能够直指工艺缺陷,有利于有目的的改善制造工艺。
声明:
“比特失效模式统计方法及装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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