本发明公开一种无需参考样本的热障涂层陶瓷层太赫兹测厚方法,将太赫兹时域光谱系统发射的太赫兹波垂直入射热障涂层,垂直入射的太赫兹波在陶瓷层内多次反射,获取前三次回波信号的振幅;根据计算前三次回波信号的平均振幅,得到振幅强度,根据振幅强度,计算陶瓷层的折射率;根据陶瓷层的折射率,计算陶瓷层的厚度。本发明提出的方法使用太赫兹时域信号,在无需参考样本的前提下便能够实现热障涂层陶瓷层厚度的非接触、高效、无损检测。
声明:
“无需参考样本的热障涂层陶瓷层太赫兹测厚方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)