本发明涉及一种原位电池界面的软X射线荧光吸收谱测试系统及方法,测试系统包括真空腔体,所述真空腔体内设置有调节支架和置放样品的样品台,所述调节支架上设置有硅漂移探测器,所述真空腔体外设置有向真空腔体内的所述样品发射软X射线的同步辐射X射线装置,所述硅漂移探测器采集所述样品的XRF荧光发射谱并将其传输至设置在真空腔体外的光谱处理装置。本发明的系统通过向样品发射变能量的同步辐射软X射线,并收集XRF荧光发射谱,从而可在量子点制备的原位过程中,对TiO2/量子点界面的化学结构,包括化学价态,杂质态,电子结构等进行实时研究。
声明:
“原位电池界面的软X射线荧光吸收谱测试系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)