合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 半导体测试结构

半导体测试结构

1021   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:25:58
本实用新型公开一种半导体测试结构,所述半导体测试结构包括位于一具有多个有源区的半导体衬底上的第一测试结构和多个第二测试结构,由于第一测试结构与有源区绝缘隔离,多个第二测试结构分别与有源区电连接;第一测试结构同一层的第一测试结构的第一金属互连线和第二测试结构的第二金属互连线交叉排列。应用时,分别向第一测试结构和第二测试结构通电并测试两者之间的电容,确定半导体器件的金属互连线之间是否存在电化学腐蚀,并对腐蚀的程度进行评价,以及时发现电化学腐蚀现象,避免电化学腐蚀所带来的影响,提高了产品的良率。
声明:
“半导体测试结构” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记