本发明涉及DNA自组装膜技术领域,具体涉及一种基于酶水解能力的基片表面HP DNA发卡构型的定量评测及消除背景信号的方法。具体步骤包括:通过高温变性去除二聚体;将基片浸入酶量为100U~300U的核酸外切酶I缓冲液中水解;利用电量积分技术确定电极表面HP DNA发卡构型的比例。本发明基于核酸外切酶I对ssDNA和HP DNA发卡构型水解能力的差异,结合
电化学方法定量评测基片表面HP DNA发卡构型的比例。此外,核酸外切酶I的使用还可有效消除由非发卡构型引起的背景信号,从而极大的提高Hairpin DNA基生物传感器的检测灵敏度。
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“基于酶水解能力的基片表面HP DNA发卡构型的定量评测及背景信号消除方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
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