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用于痕量探测仪的样品处理系统及方法

961   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:20:10
一种用于痕量探测仪的样品处理方法及系统,包括:采样载体,用于通过擦拭待检物体表面而将其表面附着的物质采集到采样载体的表面上;以及痕量探测仪,其进样装置中设有进样件,通过先将采样载体表面上所采集的物质转移到该进样件的表面上,再对转移到进样件的表面上的物质进行检测。本发明中,通过用化学纤维材料制成的采样载体擦拭待测物品表面,将采样载体所采集到的样品通过机械方式转移到进样装置的金属膜或细网,再通过加热使样品气化,送入痕量检测仪进行分析。由此可以提高样品采集和热脱附效率,同时避免对采样材料直接进行加热处理,减少本底干扰。
声明:
“用于痕量探测仪的样品处理系统及方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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