合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置及其使用方法

基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置及其使用方法

1075   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 07:06:45
本发明提供一种基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置及其使用方法,包括样品池框架及固定于样品池框架下方的倒置的三棱柱形高阻硅棱镜、所述样品池框架中部具有镂空部,三棱柱形高阻硅棱镜的底面与镂空部形成放置分辨物体的样品池腔室,所述镂空部的上表面可拆连接有样品池盖,利用上述装置能够通过利用太赫兹波在高阻硅棱镜内部发生衰减全反射,而后在棱镜底部形成倏逝波与样品进行反应,从而实现含水、粉末状样品的太赫兹光谱检测,其结构简单、方便调试。应用基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置,在分辨物体的组成成分,分析物体的物理化学性质方面具有潜在的工程应用价值。
声明:
“基于高阻硅的太赫兹衰减全反射检测装置及其使用方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记