本发明涉及化学物相分析技术领域,具体地指一种采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法。该方法包括(1)试样制备(2)仪器设备与测试条件(3)测试条件(4)分析步骤(5)数据处理等步骤。本发明采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法,用于掺锡氧化铟粉分析中,将得到的掺锡氧化铟粉样品X射线衍射数据与衍射的PDF卡片库中标准谱图进行比较进而确定样品中所含的物相成分。其操作简单可控,同时结果准确、可靠;可在此基础上,建立掺锡氧化铟粉物相分析行业标准,从而促进掺锡氧化铟粉行业的健康发展。
声明:
“采用X射线衍射法对掺锡氧化铟粉进行物相分析的方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)