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膜厚测量方法、系统及化学机械抛光装置

845   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:49:10
本发明适用于化学机械抛光技术领域,提供了一种膜厚测量方法、系统及化学机械抛光装置,其中方法包括:根据离线采集的晶圆膜厚信息以及在抛光期间使用膜厚传感器进行动态测量时输出的信号值,获取输出信号与晶圆膜厚的映射关系;并利用所述映射关系,将所述膜厚传感器在线测量时输出的信号值转换为膜厚值。
声明:
“膜厚测量方法、系统及化学机械抛光装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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