合肥金星智控科技股份有限公司
宣传

位置:中冶有色 >

有色技术频道 >

> 化学分析技术

> 膜厚测量方法、系统及化学机械抛光装置

膜厚测量方法、系统及化学机械抛光装置

852   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:49:10
本发明适用于化学机械抛光技术领域,提供了一种膜厚测量方法、系统及化学机械抛光装置,其中方法包括:根据离线采集的晶圆膜厚信息以及在抛光期间使用膜厚传感器进行动态测量时输出的信号值,获取输出信号与晶圆膜厚的映射关系;并利用所述映射关系,将所述膜厚传感器在线测量时输出的信号值转换为膜厚值。
声明:
“膜厚测量方法、系统及化学机械抛光装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
分享 0
         
举报 0
收藏 0
反对 0
点赞 0
标签:
化学分析
全国热门有色金属技术推荐
展开更多 +

 

中冶有色技术平台微信公众号
了解更多信息请您扫码关注官方微信
中冶有色技术平台微信公众号中冶有色技术平台

最新更新技术

报名参会
更多+

报告下载

第二届中国微细粒矿物选矿技术大会
推广

热门技术
更多+

衡水宏运压滤机有限公司
宣传
环磨科技控股(集团)有限公司
宣传

发布

在线客服

公众号

电话

顶部
咨询电话:
010-88793500-807
专利人/作者信息登记