本发明公开了一种XRF分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法,其中工作曲线的制作方法包括如下步骤:制备标准样品的分析样片;采用相同的仪器工作条件分别测量各种类标准样品分析样片中各化学成分X射线荧光强度;其中每一种类标准样品测量的化学成分包括待检测样品中全部的可测定化学成分;分别确定各种类样品中各化学成分对应的工作曲线的斜率和截距:通过对标准样品中某一化学成分的已知质量百分含量与测量得到的该化学成分的荧光强度按设定的工作曲线表达式进行回归分析,从而确定该种类标准样品中该化学成分对应的工作曲线的斜率和截距。本发明提高了XRF分析的准确性和操作方便性。
声明:
“XRF分析试样化学成分的方法及其工作曲线的制作方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)