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一种集成电路IO特性智能测试仪

676   编辑:管理员   来源:中冶有色技术网  
2023-03-19 06:27:31
本发明公开了一种集成电路IO特性智能测试仪,其特点是该测试仪由单片机、可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块组成,将待检测芯片串接在继电器模块和电流检测模块之间,对芯片的ESD二极管进行性能检测,所述单片机与可调电源模块、LCD触摸显示模块、继电器模块和电流检测模块连接;所述电流检测模块与可调电源模块连接;所述继电器模块采用117路继电器连接八个4转16译码器。本发明与现有技术相比具有测试误差小,防止信号串扰,有效避免电源倒灌,测试方便,降低测试过程中误操作对芯片造成的危害。
声明:
“一种集成电路IO特性智能测试仪” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)
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