本申请公开了一种双极型晶体管性能检测装置,包括:所述装置包括:脉宽调制控制器、反相器、半桥驱动器、被检测对象、灯泡以及数字直流电压表电流表,其中,所述被检测对象包括单个被检测晶体管或者由多个被检测晶体管组成的晶体管模块。上述方案,实现准确测试IGBT是否准确的导通与关段,结合万用表可以准确的测量出待检测IGBT模块半管的情况。
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