本发明公开了一种电源管理
芯片电控性能检测装置,包括底座,底座内设置有用于收集芯片的收纳机构,底座上侧设置有检测箱,检测箱内设置有用于检测芯片电控性能的检测机构;本发明通过转动的皮带带动芯片由上至下运动,当芯片向下运动至引脚与供电触点以及三个导电块接触时,则芯片引脚向导电块输出电压,使得主动触点与从动触点抵接,若芯片正常工作,引脚使得三个主动触点均与从动触点抵接,则第一电磁铁才会得电,以此使得右侧的收纳腔向左运动至芯片腔下侧,从而收集正常工作的芯片,若芯片无法正常工作,则反之,使得左侧的收纳腔收集无法正常工作的芯片,从而实现了芯片大批量快速检测,极大的提高了芯片检测效率。
声明:
“一种电源管理芯片电控性能检测装置” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)