本申请提供了一种磁通门磁芯性能检测装置和方法,所述检测装置包括:屏蔽筒,用于屏蔽外界磁场的信号,在屏蔽筒内形成零场环境;旋转单元,用于为检测平台提供旋转动力;检测平台,用于安装待测磁芯;电路模块,用于为旋转单元和检测平台供电并提供电信号通路;支架结构,用于为整个磁通门磁芯检测装置提供支撑结构。本申请还提供了一种利用上述磁通门磁芯性能检测装置检测磁芯性能的方法。本申请实现了在磁通门传感器组装前对磁芯性能的检测,增加了成品率,降低了资源的浪费。
声明:
“一种用于磁通门磁芯性能检测装置和方法” 该技术专利(论文)所有权利归属于技术(论文)所有人。仅供学习研究,如用于商业用途,请联系该技术所有人。
我是此专利(论文)的发明人(作者)