本实用新型涉及一种半导体芯片全自动测试分选机，包括机身，所述机身上设置有升降机、第一托盘搬运机构、绷膜角度校正及芯片单顶工作台、芯片翻转定位工装、十二机械臂转塔机构、芯片测试工装、芯片引脚面及侧面外观检测工装、托盘芯片摆盘机构、第二托盘搬运机构和托盘叠放机构。该半导体芯片全自动测试分选机，整个分选过程都是一颗一颗搬运芯片，不会发生芯片堆放导致芯片与芯片相互刮伤的情况。

本实用新型公开了一种金相显微镜观察半导体用载样台，包括基座，所述基座的表面固定连接有连接架，所述连接架的表面固定连接有观察台和载片台，本实用新型涉及显微镜技术领域。该金相显微镜观察半导体用载样台，在载片台的内部设置固定机构，通过转动块和转动槽的位置的改变使固定块之间的相对位置被改变，转动块使用透光材料制作，便于观察，固定块的位置会根据转动块的改变进行同步改变，便于载玻片的中心位置与物镜的中心相对于，便于观察载玻片内部的半导体样本，同时采用固定载玻片四面的方式固定载玻片的位置，促使各方面的力难以改变载玻片的位置，使载玻片偏移，观察过程中不会使观察的视角被改变，便于细致观察。